半導體失效定位！重磅活動！

作者：芯榜 來源： 頭條號 29701/20

// 各位半導體行業(yè)伙伴2023年好！正值即將到來的兔年新年，在此預祝大家新春快樂，闔家幸福！而我們的云上課堂也即將于春節(jié)后2月8日迎來第二課。上一課我們介紹了賽默飛靜電放電及電過應力測試產(chǎn)品組合為用戶提供的最優(yōu)解決方案，以及雙束電鏡技術的

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各位半導體行業(yè)伙伴2023年好！

正值即將到來的兔年新年，在此預祝大家新春快樂，闔家幸福！而我們的云上課堂也即將于春節(jié)后2月8日迎來第二課。

上一課我們介紹了賽默飛靜電放電及電過應力測試產(chǎn)品組合為用戶提供的最優(yōu)解決方案，以及雙束電鏡技術的基本原理和前沿應用，如果您錯過了這次直播可以在賽默飛材料與結構分析中國官微→往期回顧→直播回放→電鏡-半導體中回看。

大家知道我們在對失效點進行雙束電鏡加工之前最重要的就是精確確定失效點的位置，而失效點定位有多種方式，例如光學失效定位、熱失效定位和電失效定位，這些方式互有所長也互為補充。其中光學失效定位和熱失效定位的基礎原理和應用案例將是我們第二課的重點。同時我們也會進一步介紹PFIB與Laser PFIB的原理及特點，以及與此對應的優(yōu)勢應用領域，同樣干貨滿滿！

2023年2月8日14:00-15:30賽默飛同“芯”協(xié)力系列云上課堂開講，快快掃碼報名吧！

會議時間：2023年2月8日14:00-15:30

參與方式：

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演講嘉賓：荀愛兵

賽默飛世爾科技EFA應用專家

個人簡介：負責賽默飛光學失效定位產(chǎn)品的技術支持，熟悉各種光學定位失效技術，對于光學失效定位的應用有豐富的經(jīng)驗。

演講嘉賓：楊維新

賽默飛世爾科技FIB業(yè)務拓展經(jīng)理

個人簡介：具有9年電子顯微鏡行業(yè)工作經(jīng)驗，熟悉SEM、FIB、TEM、EELS等儀器的應用及workflow開發(fā)經(jīng)驗。目前專注于半導體物理失效分析領域，結合多年SEM/TEM應用經(jīng)驗，為邏輯、存儲、平板顯示等領域客戶提供研發(fā)以及良率提升過程中物理失效問題的解決方案。楊維新具有中國科學院高能物理研究所碩士學位。

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